測(cè)試周期3~5個(gè)工作日
測(cè)試設(shè)備三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量?jī)x
檢測(cè)樣品范圍金屬加工件、塑料件等
設(shè)備品牌?？怂箍?/span>
平臺(tái)(工作臺(tái))花崗巖
四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司授權(quán)成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司在網(wǎng)絡(luò)推廣平臺(tái)上為其進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)推廣。成都國(guó)威冠準(zhǔn)檢測(cè)技術(shù)有限公司所發(fā)信息中的檢驗(yàn)檢測(cè)由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司檢驗(yàn)檢測(cè)，報(bào)告由四川納卡檢測(cè)服務(wù)有限公司出具。
3D掃描與逆向工程
由于消費(fèi)性電子產(chǎn)品對(duì)其外觀曲面的要求越來越高，在曲面光滑性和精度上也有著越來越高的要求，傳統(tǒng)的尺寸檢測(cè)方法已經(jīng)不能滿足其要求。
服務(wù)項(xiàng)目：
FAI（產(chǎn)品件檢驗(yàn)）
TVR（模具驗(yàn)證）
CpK （制程能力驗(yàn)證及分析）
GR&R (量測(cè)能力驗(yàn)證及分析）
普通尺寸檢測(cè)
形位公差檢測(cè)
表面粗糙度參數(shù)含義
Ra評(píng)定輪廓算術(shù)平均偏差：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)值的的算術(shù)平均值。
Rz輪廓大高度：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)，大輪廓峰高與低輪廓谷深之間的距離。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十點(diǎn)高度’。）
Rt輪廓總高度：在評(píng)定長(zhǎng)度內(nèi)大輪廓峰高和低輪廓谷深之間的距離。（由于評(píng)定長(zhǎng)度≥取樣長(zhǎng)度，故Rt≥Rz）
Sa評(píng)定表面算術(shù)平均偏差:在取樣面積內(nèi)縱坐標(biāo)的的算術(shù)平均值。（3D光學(xué)干涉法測(cè)量出的面粗糙度，適用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq評(píng)定輪廓的均方根差：在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)縱坐標(biāo)的均方根值。
測(cè)量方法：探針接觸式測(cè)量法、光學(xué)干涉非接觸式測(cè)量法
檢測(cè)設(shè)備：2D輪廓掃描儀、3D光學(xué)干涉儀
微觀尺寸檢測(cè)
采用布魯克的3D白光干涉儀、東京精密的2D探針輪廓儀、掃描電子顯微鏡等國(guó)際超精密設(shè)備，能為企業(yè)提供微米、納米級(jí)別的微觀尺寸量測(cè)、3D形貌掃描分析、非常規(guī)尺寸（如微小部件的R角半徑、樣品表面異常分析等）以及表面粗糙檢測(cè)等服務(wù)，幫助企業(yè)解決一系列產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的各種異常狀況，協(xié)助企業(yè)管控生產(chǎn)質(zhì)量。
服務(wù)項(xiàng)目：
3D掃描：
3D任意外觀曲面掃描
3D現(xiàn)場(chǎng)掃描
產(chǎn)品3D CAD Model建構(gòu)
易變形彈性曲面掃描量測(cè)
3D實(shí)體色階比對(duì)表面缺陷分析
2D邊緣輪廓色階比對(duì)邊緣缺陷分析
逆向工程：
分析競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手產(chǎn)品設(shè)計(jì)
產(chǎn)品或模具自由曲面建構(gòu)
快速樣品制作之CAD圖檔建構(gòu)
使用設(shè)備：
3D輪廓掃描機(jī)器人
3D輪廓掃描儀
手持式掃描儀等
成都檢測(cè)中心擁有一批高精密度的大型檢測(cè)設(shè)備和一批訓(xùn)練有素的檢測(cè)的團(tuán)隊(duì),能夠?yàn)榭蛻籼峁┑某叽鐧z測(cè)與形位公差檢測(cè)服務(wù)。
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