無損檢測

背景介紹
無損探傷檢測就是NDT Testing，縮寫是NDT（或NDE，non-destructive examination），也叫無損探傷，是在不損害或不影響被檢測對象使用性能的前提下，采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對材料、零件、設(shè)備進行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測的技術(shù)。
檢測項目
射線檢測
利用射線穿透物質(zhì)時的衰減特性來探測被檢物中的不連續(xù)性（缺陷）并記錄與實現(xiàn)其圖像的方法。射線檢測按照射線（或輻射）源不同可分為X射線檢測、γ射線檢測、中子射線檢測、質(zhì)子射線檢測和電子輻射檢測等方法。
超聲波檢測
利用人感覺不到的高頻聲波（＞20000Hz）在被檢物中的傳播、反射、衰減等特性判斷測定被檢物缺陷的方法。
磁粉檢測
被檢物在磁場中被磁化后，缺陷部位產(chǎn)生漏磁磁場，在被檢物表面撒上磁粉，缺陷處有磁粉附著從而顯示出缺陷。磁粉檢測只適用于鐵磁性材料。鐵磁性材料上非磁性涂層厚度小于50um時，對磁粉檢測靈敏度影響很小。缺陷長度方向與磁場方向相垂直是磁粉檢測的重要條件。
滲透檢測
施加于被檢物的滲透劑靠毛細(xì)作用滲入被檢物表面缺陷內(nèi)，清洗被檢物后，用顯像劑將殘留在缺陷中的滲透劑吸出，從而以熒光或著色圖像顯示缺陷的形狀和位置。滲透液對缺陷的滲透能力與滲透液表面張力、滲透液對固體的潤濕作用、缺陷形狀和大小以及滲透液粘度等有關(guān)。 
檢測設(shè)備
射線探傷機，超聲波探傷儀，磁粉探傷機等。 

檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)
射線檢測 GB/T 3323，JB/T 4730.2，JB/T 6440，EN 1435，ASTM E 446，ASTM E186，ISO 5817
超聲波檢測 GB/T2970，GB/T6402，GB/T7233，GB/T11345，EN 12680-1，ASTM A388/A388M，JB/T 4730.3
磁粉檢測 GB/T15822，JB/T6061，BS EN1290，JB/T 4730.4
滲透檢測 JB/T 9218，JB/T6062，EN 571-1，JB/T 4730.5